掃描電鏡原位拉伸試驗是一種常用的分析方法，可以提供有關物體彈性的信息，以及物體受到壓力或拉力時產生的阻力。這種測試可以對多種材料進行分析，分析材料受力時變化行為。主要目的是評估相關參數(shù)或研究剪切應力如何影響材料性能。可以幫助研究人員創(chuàng)建模型并研發(fā)更好的材料。
掃描電鏡原位拉伸試驗的主要優(yōu)點：
1）具有環(huán)境掃描技術的高分辨場發(fā)掃描電鏡。
2）在各種操作模式下分析導電和不導電樣品，得到二次電子像和背散射電子像。
3）較大程度降低樣品制備要求:低真空/環(huán)境真空技術使得不導電樣品和/或含水樣品不經導電處理即可直接成像和分析，樣品表面無電荷累積現(xiàn)象。
4）“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng)，對導電和不導電樣品都可進行EDS/EBSD分析，不管是在高真空模式或在低真空模式。穩(wěn)定的大束流確保能譜及EBSD分析工作的快速、準確。
5）電鏡可作為一個微觀實驗室。安裝特殊的原位樣品臺后，在從-165°C到1500°C溫度范圍內，對多種樣品保持其原始狀態(tài)下進行動態(tài)原位分析。
6）對導電樣品，可選用減速模式得到表面和成份信息。
7)直觀、簡便易用的軟件，即使電鏡新手也能輕易上手。
掃描電鏡原位拉伸試驗的應用：
靜態(tài)或動態(tài)觀察可控的機械負荷下表面的變化，裂紋擴展，分層，以及形成滑移面等現(xiàn)象。
可以應用于金屬，陶瓷，玻璃，陶瓷塊體材料或薄膜，電鍍層，釬焊或焊接接頭，礦物，木材，有機材料等。
該拉伸臺可與現(xiàn)今絕大部分掃描電鏡配合使用。加配4個支撐角后，還可與光學顯微鏡、AFM、激光或拉曼顯微鏡聯(lián)用。
